Guided-deconvolution for Correlative Light and Electron Microscopy

要約

相関光学顕微鏡と電子顕微鏡は、細胞の内部構造を研究するための強力なツールです。
これは、相関光 (LM) および電子 (EM) 顕微鏡情報の相互の利点を組み合わせたものです。
ただし、構造情報に機能を割り当てるために EM 画像に LM をオーバーレイする従来のアプローチは、LM 画像に表示される構造の詳細に大きな矛盾があるため妨げられています。
この論文は、EM ガイド付きデコンボリューションと呼ばれる最適化されたアプローチを調査することを目的としています。
EM 画像に表示される詳細に蛍光標識構造を自動的に割り当てて、2 つのイメージング モード間の解像度と特異性の両方のギャップを埋めようとします。

要約(オリジナル)

Correlative light and electron microscopy is a powerful tool to study the internal structure of cells. It combines the mutual benefit of correlating light (LM) and electron (EM) microscopy information. However, the classical approach of overlaying LM onto EM images to assign functional to structural information is hampered by the large discrepancy in structural detail visible in the LM images. This paper aims at investigating an optimized approach which we call EM-guided deconvolution. It attempts to automatically assign fluorescence-labelled structures to details visible in the EM image to bridge the gaps in both resolution and specificity between the two imaging modes.

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